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  • 非接觸式金屬膜厚測量?jì)x
    非接觸式金屬膜厚測量?jì)x
    昊量光電新推出用于導電薄膜和薄金屬層膜厚測量的非接觸式金屬膜厚測量?jì)xEddyCus TF Series，這款金屬膜厚測量?jì)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測量，對導電薄膜的膜厚精確測量，表征已被隱藏和封裝的導電層，并把測量數據保存和導出。
    型號：    廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商
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  • MProbe系列膜厚測量?jì)x（測量厚度1nm~1.8mm）
    MProbe系列膜厚測量?jì)x（測量厚度1nm~1.8mm）
    膜厚測量?jì)x（測量厚度1nm~1.8mm）美國Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測厚儀測量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃級分辨率，非接觸式無(wú)損快速測量。廣泛應用在各種生產(chǎn)或研究中，比如測量薄膜太陽(yáng)能電池的CIGS層，觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩定的被測量。
    型號：MProbe系列    廠(chǎng)商性質(zhì)：代理商
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